Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем | Прикладная дискретная математика. 2016. № 4(34). DOI: 10.17223/20710410/34/5

Получены экспоненциальные нижние оценки длин следующих тестов: 1) полных диагностических тестов при однотипных и произвольных константных неисправностях на входах схем и 2) полных диагностических тестов для схем из функциональных элементов в некоторых базисах при однотипных и произвольных константных неисправностях на выходах элементов.
  • Title Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем
  • Headline Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем
  • Publesher Tomask State UniversityTomsk State University
  • Issue Прикладная дискретная математика 4(34)
  • Date:
  • DOI 10.17223/20710410/34/5
Ключевые слова
схема из функциональных элементов, неисправность, полный диагностический тест, тест для входов схем, logic circuit, fault, complete diagnostic test, test for inputs of circuits
Авторы
Ссылки
Чегис И. А, Яблонский С. В. Логические способы контроля работы электрических схем // Труды МИАН. 1958. Т. 51. С. 270-360.
Яблонский С. В. Надежность и контроль управляющих систем // Материалы Всесоюзного семинара по дискретной математике и её приложениям. М.: Изд-во МГУ, 1986. С. 7-12.
Яблонский С. В. Некоторые вопросы надежности и контроля управляющих систем // Математические вопросы кибернетики. Вып. 1. М.: Наука, 1988. С. 5-25.
Редькин Н. П. Надёжность и диагностика схем. М.: Изд-во МГУ, 1992. 192 с.
Носков В. Н. Диагностические тесты для входов логических устройств // Дискретный анализ. Вып. 26. Новосибирск: ИМ СО АН СССР, 1974. С. 72-83.
Мадатян Х. А. Полный тест для бесповторных контактных схем // Проблемы кибернетики. Вып. 23. М.: Наука, 1970. С. 103-118.
Коваценко С. В. Синтез легкотестируемых схем в базисе Жегалкина для инверсных неисправностей // Вестник Московского университета. Сер. 15. Вычислительная математика и кибернетика. 2000. №2. С. 45-47.
Питерсон У., Уэлдон Э. Коды, исправляющие ошибки. М.: Мир, 1976. 593 с.
Бородина Ю. В. Нижняя оценка длины полного проверяющего теста в базисе {x|y} // Вестник Московского университета. Сер. 1. Математика. Механика. 2015. №4. С. 49-51.
Угольников А. Б. Классы Поста: учебное пособие. М.: Изд-во ЦПИ при механико-математическом факультете МГУ, 2008. 64 с.
 Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем | Прикладная дискретная математика. 2016. № 4(34). DOI: 10.17223/20710410/34/5
Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем | Прикладная дискретная математика. 2016. № 4(34). DOI: 10.17223/20710410/34/5