Поиск по сайту

ГлавнаяПоиск по сайту

Информация

По вашему запросу найдено материалов: 1
Искать:
Пономарев С. В. , Азин А. В. , Рикконен С. В. , Марицкий Н. Н. «Прогнозирование долговечности паяных контактных соединений микросхем» // Вестник Томского государственного университета. Математика и механика 2022. №76 C.43-55