Поиск по сайту

ГлавнаяПоиск по сайту

Информация

По вашему запросу найдено материалов: 1
Искать:
Dexing Lian ., Qingzhao Zhang ., Weiguo Zhu ., Changsong Hou . «Механизм повреждения и способ защиты полупроводниковых устройств от ионизирующего излучения» // Известия вузов. Физика 2021. №8 C.131-142