Вычисление наблюдаемоститриггеров в рамках LOS техники сканирования состояний схемы | Vestnik Tomskogo gosudarstvennogo universiteta. Upravlenie, vychislitelnaja tehnika i informatika – Tomsk State University Journal of Control and Computer Science. 2012. № 3(20).

Вычисление наблюдаемоститриггеров в рамках LOS техники сканирования состояний схемы

Для обнаружения неисправностей задержек сигналов в схемах с памятью используетсятехника сканирования состояний схемы, основанная на применении специальных триггеров, функционирующих как элементы памяти в рабочем режиме и как элементы сдвигового регистра в режиме тестирования. При этом не каждая тестовая пара может поступать навходы комбинационного эквивалента схемы. Зарубежными исследователями была предложена расширенная техника сканирования, основанная на дублировании триггеров. Эта техника требует большой аппаратурной избыточности, которая не устраивает практиков.Затем была предложена частичная техника сканирования, при которой в расширенную сканируемую цепь включаются лишь некоторые триггеры. Возникает проблема их выбора.В статье приводится алгоритм оценки наблюдаемости переменной состояния, сопоставляемой триггеру, основанный на робастной тестируемости неисправностей задержек путейи ориентированный на Launch-on-Shift (LOS)-технику сканирования. Триггеры с низкимиоценками наблюдаемости соответствующих переменных состояния являются претендентами для включения в расширенную сканируемую цепь. Приводятся результаты экспериментов на контрольных примерах.

Download file

Counter downloads: 330

Keywords

path delay fault (PDF), robust PDF, equivalent normal form (ENF), Launch-on-Shift (LOS) scan technique, неисправность задержки пути, робастная неисправность задержки, эквивалентная нормальная форма (ЭНФ), LOS-техника сканирования состояний схемы

Authors

Name	Organization	E-mail
Melnikov Alexey Vladimirovich	National Research Tomsk State University
		alexey.ernest@gmail.com

Всего: 2

References

Xu G., Singh A. D. Achieving high transition delay fault coverage with partial DTSFF enhanced scan chains // Proc. of International Test Conference. 2007. P. 1−9.

Gefu Xu, Adit D. Singh. Flip-flop selection to minimize TDF coverage ith partial enhanced scan // Proc. of ATS. 2007. P. 335−340.

Seongmoon Wang, Wenlong Wei. Low overhead partial enhenced scan technique for compact and high fault coverage transition delay test patterns // Proc. of ETS. 2008. P. 125−130.

Matrosova A.Yu., Melnikov A.V., Mukhamedov R.V., Ostanin S.A., Singh V. Flip-Flops selection for partial enhanced scan techniques // Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2012. № 2(19). C. 112−120.

Matrosova A., Andreeva A., Melnikov A., Nikolaeva E. Multiple stuck-at fault and path delay fault testable circuits // Proc. of EW&DT Symposium. Lvov. Ukraine. 2008. P. 356−364.