ГлавнаяАрхивСинтез легкотестируемых схем при произвольных константных неисправностях на входах и выходах элементов

Синтез легкотестируемых схем при произвольных константных неисправностях на входах и выходах элементов | Прикладная дискретная математика. 2019. № 43. DOI: 10.17223/20710410/43/6

Доказаны следующие утверждения: для любого натурального k существует базис из булевых функций от не более чем 2k + 2 переменных (от не более чем 4k + 2 переменных), в котором любую булеву функцию, кроме константы 1 , можно реализовать схемой из функциональных элементов, неизбыточной и допускающей проверяющий тест длины не более 3 (соответственно, диагностический тест длины не более 4) относительно не более k произвольных константных неисправностей на входах и выходах элементов. Показано, что при рассмотрении только произвольных константных неисправностей на входах элементов указанные оценки длин тестов можно понизить до 2.
  • Title Синтез легкотестируемых схем при произвольных константных неисправностях на входах и выходах элементов
  • Headline Синтез легкотестируемых схем при произвольных константных неисправностях на входах и выходах элементов
  • Publesher Tomask State UniversityTomsk State University
  • Issue Прикладная дискретная математика 43
  • Date:
  • DOI 10.17223/20710410/43/6
Ключевые слова
схема из функциональных элементов, произвольная константная неисправность, проверяющий тест, диагностический тест, logic network, arbitrary stuck-at fault, fault detection test, diagnostic test
Авторы
Ссылки
Чегис И. А., Яблонский С. В. Логические способы контроля работы электрических схем // Труды МИАН. 1958. Т. 51. С. 270-360
Яблонский С. В. Надежность и контроль управляющих систем // Материалы Всес. семинара по дискретной математике и её приложениям (Москва, 31 января-2 февраля 1984 г.). М.: Изд-во МГУ, 1986. С. 7-12
Яблонский С. В. Некоторые вопросы надежности и контроля управляющих систем // Математические вопросы кибернетики. Вып. 1. М.: Наука, 1988. С. 5-25
Редькин Н.П. Надежность и диагностика схем. М.: Изд-во МГУ, 1992. 192с
Коляда С. С. Верхние оценки длины проверяющих тестов для схем из функциональных элементов: дис. ... канд. физ.-мат. наук. М., 2013. 77с
Reddy S. M. Easily testable realizations for logic functions // IEEE Trans. Comput. 1972. V. C-21. No. 11. P. 1183-1188
Saluja K. K. and Reddy S. M. Fault detecting test sets for Reed-Muller canonic networks // IEEE Trans. Comput. 1975. V. C-24. No. 10. P. 995-998
Романов Д. С., Романова Е. Ю. Метод синтеза неизбыточных схем, допускающих единичные проверяющие тесты константной длины // Дискретная математика. 2017. Т. 29. Вып. 4. С. 87-105
Редькин Н. П. О проверяющих тестах для схем при однотипных константных неисправностях на входах элементов // Изв. вузов. Математика. 1988. №7. С.57-64
Редькин Н. П. О схемах, допускающих короткие единичные диагностические тесты // Дискретная математика. 1989. Т. 1. Вып. 3. С. 71-76
Редькин Н. П. О проверяющих тестах для схем при константных неисправностях на входах элементов // Вестник Московского университета. Сер. 1. Математика. Механика. 1997. №1. С.12-18
Попков К. А. Синтез легкотестируемых схем при однотипных константных неисправностях на входах и выходах элементов // Препринты ИПМ им. М. В. Келдыша. 2018. № 87. 18 с
Угольников А. Б. Классы Поста: учеб. пособие. М.: Изд-во ЦПИ при механико-математическом факультете МГУ, 2008. 64 с
Синтез легкотестируемых схем при произвольных константных неисправностях на входах и выходах элементов | Прикладная дискретная математика. 2019. № 43. DOI: 10.17223/20710410/43/6
Синтез легкотестируемых схем при произвольных константных неисправностях на входах и выходах элементов | Прикладная дискретная математика. 2019. № 43. DOI: 10.17223/20710410/43/6