Let Di(/) (Do(/)) be the least length of a fault detection test for irredundant logic networks consisting of logic gates in the basis {&, -}, implementing a given Boolean function /(x1,...,xn), and having at most one stuck-at-1 (stuck-at-0 respectively) fault on outputs of the logic gates. Let /1 = xp, /2 = 0, Xi, or ж//&xi2 ... ; /3 = = Xi1 &Xi2&xig& ... &xik or (... ((x/1 &xi2)/2&xig)/3& ... &xik)/k; /4 = x/1 & ... Ax//; k-i /5 = (... ((x/i1 &x/2 )^1 &x/3 )^2 & ... &x/k )^k-1, where 2 @ k @ n for /2, /3, and /5; k-i 1 @ k @ n for /4; ai,...,ak,5i,...,5k-i G {0,1}; i,ii,...,ik G {1,...,n}; indices i]_,... ,ik are pairwise different; for /3, at least one of numbers a2,... ,ak equals 0 and if k = 2, then assume xi3& ... &xik = 1; for /5, at least one of numbers 6i,..., 5k-i equals 0. It is proved that, for each Boolean function f {x\,... ,xn) ф 1, 0, iff the function f is representable in the form of f1, Di(/) = 1, iff the function f is representable in the form of /2, 2, iff the function f is representable in the form of f3, 3 otherwise. If f ф 1 then the value D1(f) is undefined. Also, it is proved that, for each Boolean function f (x1,..., xn) which is different from constants, 0, iff the function f is representable in the form of f1 , Do(f) = 1, iff the function f is representable in the form of f4 but not of f1, 2, iff the function f is representable in the form of f5, 3 otherwise. If f ф 1 or f ф 0 then the value D0(f) is undefined.
Download file
Counter downloads: 169
- Title Single fault detection tests for logic networks of AND, NOT gates
- Headline Single fault detection tests for logic networks of AND, NOT gates
- Publesher
Tomsk State University
- Issue Prikladnaya Diskretnaya Matematika - Applied Discrete Mathematics 38
- Date:
- DOI 10.17223/20710410/38/5
Keywords
схема из функциональных элементов, константная неисправность, единичный проверяющий тест, logic network, stuck-at fault, single fault detection testAuthors
References
ЧегисИ.А., Яблонский С. В. Логические способы контроля работы электрических схем // Труды МИАН. 1958. Т. 51. С. 270-360
Яблонский С. В. Надежность и контроль управляющих систем // Материалы Всесоюзного семинара по дискретной математике и ее приложениям (Москва, 31 января-2 февраля 1984 г.). М.: Изд-во МГУ, 1986. С. 7-12.
Яблонский С. В. Некоторые вопросы надежности и контроля управляющих систем // Математические вопросы кибернетики. Вып. 1. М.: Наука, 1988. С. 5-25.
Редькин Н. П. Надежность и диагностика схем. М.: Изд-во МГУ, 1992. 192 с.
Reddy S. M. Easily testable realization for logic functions // IEEE Trans. Comput. 1972. V. C-21. No. 11. P. 1183-1188.
Коляда С. С. Верхние оценки длины проверяющих тестов для схем из функциональных элементов: дис.. канд. физ.-мат. наук. М., 2013. 77с.
Романов Д. С. Метод синтеза легкотестируемых схем, допускающих единичные проверяющие тесты константной длины // Дискретная математика. 2014. Т. 26. №2. С. 100-130.
Редькин Н. П. О полных проверяющих тестах для схем из функциональных элементов // Вестник Московского университета. Серия 1. Математика. Механика. 1986. №1. С. 72-74.
Редькин Н. П. О полных проверяющих тестах для схем из функциональных элементов // Математические вопросы кибернетики. Вып. 2. М.: Наука, 1989. С. 198-222.
Романов Д. С. О синтезе схем, допускающих полные проверяющие тесты константной длины относительно произвольных константных неисправностей на выходах элементов // Дискретная математика. 2013. Т. 25. №2. С. 104-120.
Редькин Н. П. О схемах, допускающих короткие тесты // Вестник Московского университета. Серия 1. Математика. Механика. 1988. №2. С. 17-21.
Редькин Н. П. О единичных диагностических тестах для однотипных константных неисправностей на выходах функциональных элементов // Вестник Московского университета. Серия 1. Математика. Механика. 1992. №5. С. 43-46.
Бородина Ю. В. О синтезе легкотестируемых схем в случае однотипных константных неисправностей на выходах элементов // Вестник Московского университета. Серия 15. Вычислительная математика и кибернетика. 2008. №1. С. 40-44.
Попков К. А. О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем // Препринты ИПМ им. М.В.Келдыша. 2015. №74. 21с.
Бородина Ю. В. Нижняя оценка длины полного проверяющего теста в базисе {х | у} // Вестник Московского университета. Серия 1. Математика. Механика. 2015. №4. С. 49-51.
Бородина Ю. В. О схемах, допускающих единичные тесты длины 1 при константных неисправностях на выходах элементов // Вестник Московского университета. Серия 1. Математика. Механика. 2008. №5. С. 49-52.
Бородина Ю. В., Бородин П. А. Синтез легкотестируемых схем в базисе Жегалкина при константных неисправностях типа 0 на выходах элементов // Дискретная математика. 2010. Т. 22. №3. С. 127-133.
Попков К. А. О единичных диагностических тестах для схем из функциональных элементов в базисе Жегалкина // Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Физико-математические науки. 2016. №3. С. 3-18.
Яблонский С. В. Введение в дискретную математику. М.: Наука, 1986. 384 с.

Single fault detection tests for logic networks of AND, NOT gates | Prikladnaya Diskretnaya Matematika - Applied Discrete Mathematics. 2017. № 38. DOI: 10.17223/20710410/38/5
Download full-text version
Counter downloads: 456