A method for synthesizing circuits from functional elements on an arbitrary functionally complete basis is proposed, which implements predetermined Boolean functions and allows single diagnostic tests of small length with respect to constant and / or reverse faults at the inputs and / or outputs of elements at certain initial values. conditions associated with the existence of short blocks of verifiers that test circuits on the same basis with the same faults. Based on this method, new upper bounds are obtained for the length of the minimum unit diagnostic tests for circuits of functional elements in some cases for some element malfunctions.
Download file
Counter downloads: 83
- Title A method for constructing logic networks allowing short single diagnostic tests
- Headline A method for constructing logic networks allowing short single diagnostic tests
- Publesher
Tomsk State University - Issue Prikladnaya Diskretnaya Matematika - Applied Discrete Mathematics 46
- Date:
- DOI 10.17223/20710410/46/4
Keywords
схема из функциональных элементов, булева функция, константная неисправность, инверсная неисправность, единичный проверяющий тест, единичный диагностический тест, logic network, Boolean function, stuck-at fault, inverse fault, single fault detection test, single diagnostic testAuthors
References
Чегис И. А., Яблонский С. В. Логические способы контроля работы электрических схем // Труды МИАН. 1958. Т. 51. С. 270-360
Яблонский С. В. Надёжность и контроль управляющих систем // Материалы Всесоюзного семинара по дискретной математике и её приложениям (Москва, 31 января-2 февраля 1984г.). М.: Изд-во МГУ, 1986. С. 7-12
Яблонский С. В. Некоторые вопросы надёжности и контроля управляющих систем // Математические вопросы кибернетики. Вып. 1. М.: Наука, 1988. С. 5-25
Редькин Н.П. Надёжность и диагностика схем. М.: Изд-во МГУ, 1992. 192 с
Редькин Н. П. О единичных диагностических тестах для однотипных константных неисправностей на выходах функциональных элементов // Вестник Московского университета. Сер. 1. Математика. Механика. 1992. № 5. С. 43-46
Попков К. А. О точном значении длины минимального единичного диагностического теста для одного класса схем // Дискретный анализ и исследование операций. 2017. Т. 24. №3. С. 80-103
Попков К. А. О единичных диагностических тестах для схем из функциональных элементов в базисе Жегалкина // Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Физико-математические науки. 2016. №3. С. 3-18
Попков К. А. Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов // Дискретная математика. 2017. Т. 29. Вып.2. С. 53-69
Романов Д. С., Романова Е. Ю. Метод синтеза неизбыточных схем, допускающих короткие единичные диагностические тесты при константных неисправностях на выходах элементов // Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Физикоматематические науки. 2016. №. 2. С. 87-102
Попков К. А. Короткие единичные тесты для схем при произвольных константных неисправностях на выходах элементов // Дискретная математика. 2018. Т. 30. Вып. 3. С. 99-116
Коваценко С.В. Синтез легкотестируемых схем в базисе Жегалкина для инверсных неисправностей // Вестник Московского университета. Сер. 15. Вычислительная математика и кибернетика. 2000. № 2. С. 45-47
Романов Д. С. Метод синтеза неизбыточных схем в стандартном базисе, допускающих единичные диагностические тесты длины два // Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Физико-математические науки. 2016. № 3. С. 56-72
Романов Д. С. Метод синтеза неизбыточных схем в базисе Жегалкина, допускающих единичные диагностические тесты длины один // Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Физико-математические науки. 2015. № 4. С. 38-54
Любич И. Г., Романов Д. С. О единичных диагностических тестах относительно инверсных неисправностей элементов в схемах над некоторыми базисами // Прикладная математика и информатика. Вып. 58. М.: МАКС Пресс, 2018. С. 47-61
Редькин Н. П. О схемах, допускающих короткие единичные диагностические тесты // Дискретная математика. 1989. Т. 1. Вып. 3. С. 71-76
Попков К. А. Синтез легкотестируемых схем при однотипных константных неисправностях на входах и выходах элементов // Интеллектуальные системы. Теория и приложения. 2018. Т. 23. Вып. 3. С. 131-147
Попков К. А. Синтез легкотестируемых схем при произвольных константных неисправностях на входах и выходах элементов // Прикладная дискретная математика. 2019. № 43. С. 78-100
Яблонский С.В. Введение в дискретную математику. М.: Наука, 1986. 384с
Бородина Ю. В. О схемах, допускающих единичные тесты длины 1 при константных неисправностях на выходах элементов // Вестник Московского университета. Сер. 1. Математика. Механика. 2008. № 5. С. 49-52
A method for constructing logic networks allowing short single diagnostic tests | Prikladnaya Diskretnaya Matematika - Applied Discrete Mathematics. 2019. № 46. DOI: 10.17223/20710410/46/4
Download full-text version
Counter downloads: 433