Об оценках ненадёжности схем при инверсных неисправностях и отказах функциональных элементов | Прикладная дискретная математика. Приложение. 2013. № 6.

Об оценках ненадёжности схем при инверсных неисправностях и отказах функциональных элементов

Рассматривается реализация булевых функций схемами из ненадёжных функциональных элементов в произвольном полном базисе B. Предполагается, что все элементы схемы независимо друг от друга переходят в неисправные состояния двух типов (инверсные неисправности и отказ элементов). Получены верхние и нижние асимптотические оценки ненадёжности схем.

About unreliability bounds for circuit with inverse faults and functional element breakdowns.pdf Рассмотрим реализацию булевых функций неприводимыми [1] схемами из ненадёжных функциональных элементов в произвольном полном конечном базисе B. Будем считать, что неприводимая схема из ненадёжных элементов реализует функцию f (x) (x = (x1,... , xn)), если при поступлении на входы схемы набора а при отсутствии неисправностей в схеме на её выходе появляется значение f (а). Предполагается, что каждый элемент схемы независимо от других элементов переходит в неисправное состояние первого или второго типа. Неисправность первого типа (отказ элемента) появляется на любом входном наборе элемента с вероятностью й G (0,1/2) и характеризуется тем, что элемент не работает. Считаем, что в этом случае вся схема не работает и значение на её выходе не определено. Неисправность второго типа характеризуется тем, что в исправном состоянии базисный элемент реализует приписанную ему функцию а в неисправном состоянии — функцию (/?, т.е. неисправности второго типа — инверсные неисправности на выходах элементов. Эти неисправности также статистически независимы, появляются независимо друг от друга с вероятностью е G (0,1/2). Таким образом, если E^ — базисный элемент с функцией ^(x1,... , xm), подверженный рассматриваемым неисправностям, то на любом входном наборе (а1,... , ат) вероятность отказа элемента равна й; вероятность появления значения

Ключевые слова

булевы функции, функциональный элемент, схема, ненадёжность схемы, инверсные неисправности на выходах элементов, отказ элемента, Boolean functions, functional element, circuit, unreliability of circuit, output inverse faults, element breakdowns

Авторы

ФИООрганизацияДополнительноE-mail
Алехина Марина АнатольевнаПензенский государственный университетпрофессор, доктор физико-математических наук, заведующая кафедройama@sura.ru
Барсукова Оксана ЮрьевнаПензенский государственный университетассистентm@pnzgu.ru
Всего: 2

Ссылки

Лупанов О. Б. Асимптотические оценки сложности управляющих систем. М.: Изд-во Моск. ун-та, 1984.
Васин А. В. Асимптотически оптимальные по надежности схемы в полных базисах из трехвходовых элементов: дис.. канд. физ.-мат. наук. Пенза, 2010.
 Об оценках ненадёжности схем при инверсных неисправностях и отказах функциональных элементов | Прикладная дискретная математика. Приложение. 2013. № 6.

Об оценках ненадёжности схем при инверсных неисправностях и отказах функциональных элементов | Прикладная дискретная математика. Приложение. 2013. № 6.