Path delay fault classification.pdf Для обнаружения реальных дефектов дискретных схем наноэлектроники, работающихна высоких частотах и при низких напряжениях питания, недостаточно строитьпроверяющие тесты, ограничиваясь традиционной моделью одиночных константныхнеисправностей. Необходимо дополнять их тестовыми наборами, обнаруживающиминеисправности задержек путей.Рассмотрим комбинационную схему, в которой логические элементы и связи междуними исправны. Пусть на неё в моменты времени t1, t2 поступают наборы v1, v2значений входных переменных схемы, которым на одном из выходов схемы сопоставляютсязначения 1,0 соответственно. Наборы поступают вместе с синхроимпульсами,отделенными друг от друга равными промежутками времени т . Если через промежутоквремени т после момента времени t2 смены значения с 1 на 0 на рассматриваемомвыходе не происходит, то говорят, что в схеме имеет место неисправность задержекпутей.Различают одиночные и кратные неисправности задержек путей, имея в виду неисправностизадержек одного или нескольких путей. Речь идет о путях, каждый из которыхначинается на некотором входе схемы и заканчивается на одном из ее выходов.Мы будем рассматривать одиночные неисправности задержек путей в предположении,что задержки отдельных линий связи пути и отдельных его элементов невелики, однакосмена значений сигналов на пути в целом может выполняться дольше времени т .Это приводит к неверной работе схемы.Будем иметь в виду, что время задержки для одного и того же пути и инверсныхсмен значений сигналов на его линиях связи и выходах элементов может различаться.Поэтому каждому пути сопоставляется пара последовательностей перепадов значенийсигналов и соответственно пара задержек одного и того же пути.Проблема тестирования неисправностей задержек путей исследуется за рубежомдостаточно давно. Важные теоретические результаты в этой области появились в начале90-х годов. В работе [1] были сформулированы требования к парам v1, v2 наборовсхемы, обнаруживающим робастные неисправности задержек путей. Условияпроявления неробастных и функциональных неисправностей, насколько нам известно,сформулированы толькодля вентилей.В зарубежных публикациях используются содержательные понятия неисправностейзадержек путей: робастной, неробастной и функциональной. Робастная неисправностьпути проявляется независимо от того, исправны или не исправны другие путив схеме. Неробастная неисправность пути проявляется в условиях отсутствия неисправностейзадержек других путей. Это предположение согласуется с традиционнымпри тестировании допущением, что только одна неисправность из рассматриваемогокласса неисправностей может иметь место в схеме при поступлении на нее проверяющеготеста, ориентированного на этот класс. В данном случае это означает, что толькоодин путь может быть неисправным. Некоторые пути в схеме не могут быть «очувств-лены» по отдельности, а только совместно с другими путями. В этом случае говорят,что на рассматриваемом пути имеет место функциональная неисправность.В данной работе перечисленные содержательные понятия формализованы на основеиспользования свойств конъюнкций ЭНФ, представляющей структуру и поведениесхемы. Наряду с конъюнкциями ЭНФ рассматриваются дополнения конъюнкций. Дополнениеконъюнкции по одной переменной используется при формализации понятийробастных и неробастных неисправностей. Для формализации понятий функциональныхнеисправностей различных типов используется дополнение конъюнкций по подмножествупеременных.Определены области существования пар тестовых наборов для робастных,неробастных и функциональных неисправностей произвольных схем. Это позволилоуточнить требования к парам тестовых наборов, обнаруживающим робастные неисправностизадержек путей, представленные в [1]. Сформулированы некоторые необходимыеи достаточные условия существования пар тестовых наборов, обнаруживающихнеисправности задержек перечисленных выше типов.

Скачать электронную версию публикации