Path delay fault test design for circuits obtained by covering ROBDDS with clbs.pdf Обнаружение неисправностей задержек путей логических схем становится актуальнойпроблемой в связи с переходом к наноразмерам транзисторов, увеличениюскорости функционирования схем, снижению напряжения питания. Тестирование такихнеисправностей связано с большими вычислительными затратами, вызваннымикак поиском обнаружимых неисправностей задержек путей, так и построением необходимыхдля тестирования пар тестовых наборов. Использование контролепригодныхсхем позволяет снизить эти затраты. В этом отношении перспективным является синтезкомбинационных схем по системе BDD -графов.В [1] показано, что проверяющий тест для всех кратных константных неисправностейна полюсах программируемых логических блоков (ПЛБ) комбинационной схемыстроится расширением проверяющего теста для одиночных неисправностей на полюсахблоков этой схемы, причем из экспериментальных результатов следует, что длинарасширенного теста в худшем случае не многим более, чем в два раза превосходитдлину проверяющего теста для одиночных неисправностей.В данной работе устанавливается, что в таких схемах существует проверяющийтест, обнаруживающий неисправность каждого пути схемы, и неисправности задержеквсех путей проявляются как робастные.Будем иметь в виду, что пара v1, v2 тестовых наборов (пара булевых векторов,сопоставляемых входам схемы) «очувствляет» рассматриваемый путь, если она вызываетсмену значений сигналов на выходе каждого элемента пути (логического элементасхемы), а также на соответствующих пути входе и выходе схемы. Предполагается,что задержки отдельных линий связи в пути и задержки отдельных его элементовневелики. Однако в целом смена значений сигналов на рассматриваемом пути можетвыполняться дольше, чем время между соседними синхроимпульсами. Это приводитк неверной работе схемы.Время задержки для одного и того же пути и инверсных смен значений на еголиниях связи и выходах элементов может различаться. Поэтому каждому пути сопоставляетсяпара последовательностей перепадов значений сигналов и соответственнопара задержек одного и того же пути.Неисправность задержки пути называется робастной, если она проявляется независимоот того, исправны или неисправны другие пути в схеме.В работе выявляется связь между путем s в схеме из ПЛБ и множеством M путейROBDD-графа схемы, покрытым путем s. Устанавливается, что любой путь множестваM может использоваться для поиска пар тестовых наборов, очувствляющихпуть s.Алгоритм построения пары v1, v2 тестовых наборов сводится к использованию тестовогонабора v1 для одиночной 10(01)-неисправности [1] входного полюса ПЛБ, непосредственносоединенного с входом схемы и являющегося началом пути s. Это значит,что v1 содержится среди тестовых наборов проверяющего теста для одиночных константныхнеисправностей на полюсах ПЛБ. Второй набор v2 получается изменениемзначения переменной, сопоставляемой рассматриваемому входу, на инверсное значение.Найденная пара наборов может использоваться для обнаружения неисправностейзадержек обеих последовательностей перепадов значений сигналов, сопоставляемыхпути s. В отличие от [2] в комбинационную схему не требуется вводить дополнительныйвход. Введение дополнительных входов часто неприемлемо для практическогоиспользования контролепригодных схем.Если неисправность каждого пути схемы проявляется как робастная, то объединениепар тестовыхнаборов для всех неисправностей представляет проверяющий тествысокого качества, обнаруживающий как одиночные, так и кратные неисправностизадержек путей. Совмещение теста для неисправностей задержек путей с тестом длякратных константных неисправностей позволяет получить проверяющий тест, обнаруживающийпрактически все реальные дефекты схем, построенных на базе современныхтехнологий проектирования.

Скачать электронную версию публикации