About unreliability bounds for circuit with inverse faults and functional element breakdowns
The realization of Boolean functions by circuits of unreliable functional elements is considered in an arbitrary complete basis. It's supposed that all circuit elements are independently of each other proned to faults of two types: output inverse faults and element breakdowns. Upper and lower asymptotical bounds of circuit unreliability are presented.
Download file
Counter downloads: 288
Keywords
булевы функции, функциональный элемент, схема, ненадёжность схемы, инверсные неисправности на выходах элементов, отказ элемента, Boolean functions, functional element, circuit, unreliability of circuit, output inverse faults, element breakdownsAuthors
| Name | Organization | |
| Alekhina M.A | Penza State University | ama@sura.ru |
| Barsukova O. U. | Penza State University | m@pnzgu.ru |
References
Лупанов О. Б. Асимптотические оценки сложности управляющих систем. М.: Изд-во Моск. ун-та, 1984.
Васин А. В. Асимптотически оптимальные по надежности схемы в полных базисах из трехвходовых элементов: дис.. канд. физ.-мат. наук. Пенза, 2010.
