Исследование валентной зоны легированного железом германия методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и теории функционала плотности

Электронная структура двойной пленочной системы Ge-Fe исследована сочетанием методов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и теории функционала плотности (ТФП). Двойная пленочная система Ge-Fe толщиной порядка 7.5 нм с одинаковым содержанием атомов Ge и Fe формировалась в условиях сверхвысокого вакуума при отжиге последовательно сформированных на поверхности кристалла Мо(110) пленок Ge и Fe. По данным фотоэлектронных измерений, проведенных в области величин энергии связи в интервале 0-200 эВ, происходит смещение спектральных линий как Ge, так и Fe относительно значений, характерных для Ge и Fe в отдельности, что согласуется с результатами ТФП-расчетов. Наблюдаемое соответствие характера энергетического сдвига электронных орбиталей и качественного согласия абсолютных величин этих сдвигов, полученных обоими методами, указывает на перспективность такого подхода для детальной настройки структурных и электронных свойств легированного железом, а также другими металлами германия.

Ключевые слова

Авторы

Ссылки