Алгоритм восстановления голографических изображений дефектов на основе модернизированного быстрого преобразования Фурье | Известия вузов. Физика. 2025. № 11. DOI: 10.17223/00213411/68/11/4

Алгоритм восстановления голографических изображений дефектов на основе модернизированного быстрого преобразования Фурье

Разработан прототип голографической камеры, позволяющий определять местоположение и размеры объемных дефектов в полупроводниковых материалах. Для эффективной работы голографической камеры, помимо оптимизации оптической схемы, был разработан алгоритм ускорения процесса восстановления изображений дефектов из цифровых голограмм, поскольку объем получаемых голографических данных значителен и требует существенного повышения производительности обработки голографических изображений. Разработанный алгоритм основан на быстром преобразовании Фурье со смешанным основанием, что позволяет более чем в 2 раза сократить время восстановления цифровых голографических изображений по сравнению со стандартными алгоритмами.

Скачать электронную версию публикации

Загружен, раз: 2

Ключевые слова

цифровая голография, ZnGeP₂, объемные дефекты, полупроводниковые материалы, быстрое преобразование Фурье

Авторы

ФИО	Организация	Дополнительно	E-mail
Дёмин Виктор Валентинович	Национальный исследовательский Томский государственный университет	к.ф.-м.н., первый проректор	dyomin@mail.tsu.ru
Юдин Николай Николаевич	Национальный исследовательский Томский государственный университет; ООО «Лаборатория оптических кристаллов»; Институт оптики атмосферы им. В.Е. Зуева СО РАН	к.ф.-м.н., директор НОЦ «Оптические и фотонные технологии»; зам. директора по науке; науч. сотр.	rach3@yandex.ru
Половцев Игорь Георгиевич	Национальный исследовательский Томский государственный университет	к.т.н., ст. науч. сотр.	polovcev_i@mail.ru
Зиновьев Михаил Михайлович	Национальный исследовательский Томский государственный университет; ООО «Лаборатория оптических кристаллов»; Институт оптики атмосферы им. В.Е. Зуева СО РАН	мл. науч. сотр.; ведущ. инженер; науч. сотр.	muxa9229@gmail.com
Кузнецов Владимир Сергеевич	Национальный исследовательский Томский государственный университет; ООО «Лаборатория оптических кристаллов»	науч. сотр.; инженер	Robert_smith_93@mail.ru
Кулеш Максим Матвеевич	Национальный исследовательский Томский государственный университет	аспирант	makksim13@gmail.com
Слюнько Елена Сергеевна	Национальный исследовательский Томский государственный университет; ООО «Лаборатория оптических кристаллов»	мл. науч. сотр.; начальник ОТК	elenohka266@mail.ru
Подзывалов Сергей Николаевич	Национальный исследовательский Томский государственный университет; ООО «Лаборатория оптических кристаллов»	мл. науч. сотр.; зам. директора по инновациям – начальник отдела	cginen@yandex.ru
Баалбаки Хусейн	Национальный исследовательский Томский государственный университет	ассистент	houssainsyr1@gmail.com

Всего: 9

Ссылки

Collier R., Burkhart C., Lin L. Optical Holography. - N.Y.: Acad. Press, 1971. - 605 p.

Dyomin V.V., Gribenyukov A.I., Davydova A.S., et al. // Appl. Opt. - 2019. - V. 58. - No. 34. - P. G300-G309. - DOI: 10.1364/AO.58.00G300.

Dyomin V.V., Davydova A.Yu., Polovtsev I.G., et al. // Atmospheric and Oceanic Optics. - 2023. - V. 36. - No. 2. - P. 113-120.

Meier R.W. // J. Opt. Soc. Am. - 1965. - V. 55. - No. 8. - P. 987-992. - DOI: 10.1364/JOSA.55.000987.

Wang H., Zhao B., Wang Y., et al. // Proc. SPIE 6622, International Symposium on Photoelectronic Detection and Imaging 2007: Laser, Ultraviolet, and Terahertz Technology. - 2008. - art. 662213. - DOI: 10.1117/12.790818.