Регистрация фононных мод кристалла ZnGeP₂ с использованием спектроскопии комбинационного рассеяния | Известия вузов. Физика. 2025. № 11. DOI: 10.17223/00213411/68/11/10

Регистрация фононных мод кристалла ZnGeP₂ с использованием спектроскопии комбинационного рассеяния

С помощью поляризационно-чувствительной спектроскопии комбинационного рассеяния изучены тетрагональные кристаллы ZnGeP₂ с кристаллографическими направлениями [100] и [001]. Представлены графики интенсивностей комбинационного рассеяния кристалла для соответствующих мод в полярных координатах. Получены фононные частоты в центре зоны Бриллюэна, установлено, что экспериментальные результаты хорошо согласуются с представленными в литературных источниках теоретическими данными.

Скачать электронную версию публикации

Загружен, раз: 2

Ключевые слова

ZnGeP₂, комбинационное рассеяние света, ориентация кристаллов, поляризация, фононные моды

Авторы

ФИО	Организация	Дополнительно	E-mail
Князькова Анастасия Игоревна	Институт оптики атмосферы им. В.Е. Зуева СО РАН	к.ф.-м.н., науч. сотр.	knyazkova@iao.ru
Снегерев Михаил Сергеевич	Национальный исследовательский Томский государственный университет	лаборант лаборатории лазерного молекулярного имиджинга и машинного обучения	snegerev@mail.tsu.ru
Вражнов Денис Александрович	Институт оптики атмосферы им. В.Е. Зуева СО РАН	ст. науч. сотр.	vda@iao.ru
Распопин Георгий Константинович	Институт оптики атмосферы им. В.Е. Зуева СО РАН	мл. науч. сотр.	RaspopinGK@mail.tsu.ru
Кистенeв Юрий Владимирович	Институт оптики атмосферы им. В.Е. Зуева СО РАН	д.ф.-м.н., профессор, гл. науч. сотр.	yuk@iao.ru

Всего: 5

Ссылки

Romanovskii O.A. et al. // Opt. Laser Technol. - 2019. - V. 116. - P. 43-47.

Kistenev Y.V., Cuisset A., Romanovskii O.A., Zherdeva A.V. // Atmos. Ocean. Opt. - 2022. - V. 35. - No. S1. - P. S17-S29.

Qian C.P. et al. // Opt. Lett. - 2019. - V. 44. - No. 3. - P. 715-718.

Das S. // Opt. Quantum Electron. - 2019. - V. 51. - No. 3. - P. 70.

Shirakata S. // J. Appl. Phys. - 1999. - V. 85. - No. 6. - P. 3294-3300.

Tlali S. et al. // MRS Online Proceedings Library (OPL). - 1997. - V. 484. - P. 543.

Merlin R., Pinczuk A., Weber W.H. // Raman Scattering in Materials Science. - Berlin, Heidelberg: Springer, 2000. - P. 1-29.

Cheng J. et al. // J. Crystal Growth. - 2011. - V. 318. - No. 1. - P. 729-732.

Zhou J.F., Goovaerts E., Schoemaker D. // Phys. Rev. B. - 1984. - V. 29. - No. 10. - P. 5509.

Fontana M.D., Bourson P. // J. Appl. Phys. - 2012. - V. 123108. - No. 10.1063/1.4769869. - P. 112.

Pan X. et al. // Chin. Opt. Lett. - 2023. - V. 21. - No. 4. - P. 041604.

Yudin N.N. et al. // Quantum Electron. - 2021. - V. 51. - No. 4. - P. 306.

Zhang S.R. et al. // Indian J. Phys. - 2020. - V. 94. - No. 9. - P. 1335-1341.

Wei L. et al. // J. Appl. Phys. - 2013. - V. 114. - P. 23.

Ohrendorf F.W., Haeuseler H. // Cryst. Res. Technol.: J. Exp. Industrial Crystallogr. - 2000. - V. 35. - No. 5. - P. 569-578.

Bettini M., Miller A. // Phys. Status Solidi (b). - 1974. - V. 66. - No. 2. - P. 579-586.