Определение подвижностей ионов в диэлектрических жидкостях на основе токовых характеристик | Известия вузов. Физика. 2026. № 1. DOI: 10.17223/00213411/69/1/6

Определение подвижностей ионов в диэлектрических жидкостях на основе токовых характеристик

Предложена методика определения подвижностей ионов в слабопроводящих диэлектрических жидкостях на основе анализа ампер-секундных характеристик. Метод протестирован с использованием численного моделирования в системе электродов нить - цилиндр и позволяет раздельно восстанавливать подвижности положительных и отрицательных ионов. Особенностью подхода является возможность анализа подвижностей естественных ионов, возникающих за счет диссоциации, без инжекции или внешней ионизации.

Скачать электронную версию публикации

Ключевые слова

электродинамика, диэлектрическая жидкость, подвижность ионов, ампер-секундная характеристика, вольт-амперная характеристика, численное моделирование

Авторы

ФИО	Организация	Дополнительно	E-mail
Журавлев Денис Витальевич	Санкт-Петербургский государственный университет	инженер-исследователь	d.zhuravlev@spbu.ru
Васильков Сергей Андреевич	Санкт-Петербургский государственный университет	к.ф.-м.н., доцент	s.vasilkov@spbu.ru

Всего: 2

Ссылки

Cheng C. et al. // IEEE Trans. Dielectr. Electr. Insul. - 2019. - V. 26. - No. 1. - P. 308-313. - DOI: 10.1109/TDEI.2018.007733.

Crowley J.M., Wright G.S., Chato J.C. // IEEE Trans. Ind. Appl. - 1990. - V. 26. - No. 1. - P. 42-49. - DOI: 10.1109/28.52672.

Yazdani M., Seyed-Yagoobi J. // J. Electrostat. - 2014. - V. 72. - No. 4. - P. 285-294. - DOI: 10.1016/j.elstat.2014.04.003.

Chirkov V.A., Stishkov Y.K., Vasilkov S.A. // IEEE Trans. Dielectr. Electr. Insul. - 2015. - V. 22. - No. 5. - P. 2709-2717. - DOI: 10.1109/TDEI.2015.005044.

Газарян А.В. Численные и физические проблемы разработки однофазных электрогидродинамических систем теплоотвода: дис.. канд. физ.-мат. наук. - СПб.: СПбГУ, 2023. - 137 c.

Nishikawara M., Yanada H., Shomura K. // J. Electrostat. - 2018. - V. 93. - P. 137-145. - DOI: 10.1016/j.elstat.2018.04.009.

Yazdani M., Yagoobi J.S. // J. Electrostat. - 2015. - V. 75. - P. 43-48. - DOI: 10.1016/j.elstat.2015.03.008.

Vázquez P.A. et al. // Phys. Fluids. - 2019. - V. 31. - No. 11. - P. 113601. - DOI: 10.1063/1.5121164.

Nassar M. et al. // IEEE Trans. Ind. Appl. - 2020. - V. 56. - No. 4. - P. 308-313. - DOI: 10.1109/TIA.2020.2990367.

Nishikawara M. et al. // IEEE Trans. Ind. Appl. - 2020. - V. 56. - No. 1. - P. 704-710. - DOI: 10.1109/TIA.2019.2951119.

Hummel A., Allen A.O. // J. Chem. Phys. - 1966. - V. 44. - No. 9. - P. 3426-3431. - DOI: 10.1063/1.1727246.

LeBlanc O.H. // J. Chem. Phys. - 1959. - V. 30. - No. 6. - P. 1443-1447. - DOI: 10.1063/1.1730219.

Essex V., Secker P.E. // J. Phys. D. Appl. Phys. - 1968. - V. 1. - No. 1. - P. 63-69. - DOI: 10.1088/0022-3727/1/1/310.

Vahidi F. et al. // IEEE Electr. Insul. Conf. - 2013. - P. 313-317. - DOI: 10.1109/EIC.2013.6554257.

Dikarev B., Karasev G. // IEEE 18th Int. Conf. Dielectr. Liq. - 2014. - P. 3-6. - DOI: 10.1109/ICDL.2014.6893150.

Xue Q. et al. // IEEE 20th Int. Conf. Dielectr. Liq. - 2019. - P. 1-4. - DOI: 10.1109/ICDL.2019.8796776.

Yang L., Zadeh M.S. // Int. Conf. High Volt. Eng. Appl. - 2012. - P. 464-467. - DOI: 10.1109/ICHVE.2012.6357033.

Cremasco A. et al. // IEEE Trans. Dielectr. Electr. Insul. - 2023. - V. 30. - No. 4. - P. 1451-1459. - DOI: 10.1109/TDEI.2023.3263828.

Suh Y.K., Baek K.H., Cho D.S. // Phys. Rev. E. - 2013. - V. 88. - No. 2. - P. 023003. - DOI: 10.1103/PhysRevE.88.023003.