Modeling of the structural condition of amorphous phases of nanosized SiO2
The structural analysis of SiO2 nanoparticles synthesized by plasma-chemical and liquid-phase methods was studied using X-ray structural analysis and simulation modeling. The amorphous state of the SiO2 elementary cell was simulated by molecular dynamics. From the first principles it was shown the obtained SiO2 cell to be stable and to be in the amorphous state. The full-profile refinement by the Rietveld method determined the parameters of the SiO2 model phase: the complete structural information, the parameters of primitive cells, the spatial distribution of atoms, and the occupancy of the cell nodes.
Download file
Counter downloads: 120
Keywords
метод Ритвельда, параметр решетки, фазовый анализ, аморфное состояние, Rietveld method, lattice parameter, phase analysis, amorphous stateAuthors
| Name | Organization | |
| Syzrantsev V.V. | Institute of Physical Materials Science SB RAS | vvveliga@mail.ru |
| Abzaev Yu.A. | Tomsk State University of Architecture and Building | Abzaev2010@yandex.ru |
References
Шека Е.Ф., Хаврюченко В.Д. // Успехи химии. - 1995. - Т. 64. - № 5. - С. 419-444.
Bardakhanov S.P., Vasiljeva I.V., Kuksanov N.K., and Mjakin S.V. // Adv. Mater. Sci. Eng. - 2010. - Article ID 241695. - 5 p. DOI: 10.1155/2010/241695. - Hindawi Publishing Corp.
Номоев А.В. // Письма ЖЭТФ. - 2010. - Т. 36. - Вып. 21. - С. 46-53.
Урханова Л.А., Лхасаранов С.А., Бардаханов С.П. // Строительные материалы. - 2014. - № 8. - С. 52-55.
Сызранцев В.В., Зобов К.В., Завьялов А.П., Бардаханов С.П. // Докл. АH. - 2015. - Т. 460. - № 3. - С. 1-3.
Абзаев Ю.А., Сызранцев В.В., Бардаханов С.П. // ФTT. - 2017. - Т. 59. - № 9. - С. 1850- 1854.
Абзаев Ю.А., Саркисов Ю.С., Клопотов А.А. и др. // Вестник ТГАСУ. - 2012. - № 4. - С. 200-209.
www.crystallography.net/search.html
Абзаев Ю.А., Старостенков М.Д., Клопотов А.И. // Фундаментальные проблемы современного материаловедения. - 2014. - Т. 11. - № 1. - С. 56-62.
Gale J.D. and Rohl A.L. // Molecular Simulation. - 2003. - V. 29. - No. 5. - P. 291-341.
Liu B., Wang J.-Y., Zhou Y.-C., and Li F.-Z. // Chin. Phys. Lett. - 2008. - V. 25. - No. 8. - P. 2747-2450.
Huang L. and Kieffer J. // Phys. Rev. - 2004. - V. B69. - P. 224203-1-224203-11.
