Поиск по сайту

HomeПоиск по сайту

Information

По вашему запросу найдено материалов: 1
Искать:
Filippov V.V., Zavorotniy A.A., Tigrov V.P. «Measurement of the tensor components of the anisotropic conductivity of semiconductor wafers a modified method of Van der Pauw» // Izvestiya vuzov. Fizika 2019. №1 C.92-99